行业知识

• 2023-11-21 10:27:49

  光学薄膜检测技术-光学薄膜损伤测量标准及判定

  光学薄膜检测技术-光学薄膜损伤测量标准及判定 广义上讲，光学薄膜的激光损伤可定义为元件“由于激光的作用而使薄膜的性能或者结构发生了可观察的变化”。由此，光学薄膜的损伤可分为可逆性损伤与非可逆性损伤两类。非可逆性损伤指由于激光作用，元件局部或整体的结构/物性发生了可观察的...

• 2023-11-09 10:01:38

  光学薄膜检测技术-薄膜透过率测量

  光学薄膜检测技术-薄膜透过率测量 利用分光光度计测量薄膜元件的透射率的操作十分简单，一般只要把待测原件插入样品室的测量光路中即可。在利用分光光度计进行透过率测量时，仪器测量的是通过样品光路到达检测器的光强度与通过参比光路到达检测器的光强度的比值，称之为透过率。在实际测量过程中...

• 2023-11-14 10:01:50

  光学薄膜检测技术-薄膜反射率测量

  光学薄膜检测技术-薄膜反射率测量薄膜反射率的测量不如透射率那样方便和普及。反射率的测量比透射率要复杂和困难。其主要原因是;1)不容易找到在很宽波段范围中具有 100%反射率性能的长期稳定的参考样品。2) 在反射率测量中，由于反射光路的变化灵敏，有样品和无样品时，光斑在光电探测器光...

• 2023-11-07 10:01:50

  光学薄膜检测技术-分光光度计的基本原理

  光学薄膜检测技术-分光光度计的基本原理 单色仪型的分光光度计的主要组成部分如图 3-1所示。光源发出要检测波段的光束，经过照明系统的光束整形后汇聚于单色仪的入射狭缝，经单色仪分光后由出射狭缝出射单色光，经过样品池后，为光电传感器接收，转化为电子信号后进入计算机处理。分光光度计...

• 2023-11-08 10:01:33

  光学薄膜检测技术-基于于涉型的光谱分析系统

  光学薄膜检测技术-基于于涉型的光谱分析系统 红外光谱仪主要是指在光谱 2.5~25um 区域进行光谱测试分析的仪器。在红外区域，人们往往采用波数来表示光波的波长 (波数是波长的倒数，单位为cm-')。色散型红外光谱仪器的主要不足是扫描速度慢，探测器灵敏度低，分辨率低。...

• 2023-02-08 11:47:33

  增透膜的设计

  20世纪30年代发现的增透膜促进了薄膜光学的早期发展。对于推动光学技术发展来说，在所有的光学薄膜中，增透膜起着最重要的作用。直至今天，就其生产的总量来说，它仍然超过所有其他类型的薄膜。因此，研究增透膜的设计和制备技术，对于生产实践有着重要的意义。

• 2023-02-14 12:06:16

  单层增透膜

  最简单的增透膜，是在玻璃表面上镀一层低折射率的薄膜，如图1所示。 在界面1和2上的振幅反射系数r1和r2为r1=n0-n1/n0+n1，r2=n1-n2/n1+n2 从矢量图上可以看到，合振幅矢量随着r1和r2之间的夹角2δ1而变化，合矢量端点的轨迹为一圆周。当膜层...

• 2023-02-15 11:28:30

  双层增透膜

  对于高透射要求增透膜来说，使用任何一种基片以及常见的中红外薄膜材料，均很难达到接近100%透射率的要求。为此，我们可以在折射率为ng的基片上镀一层λ0/4厚、折射率为n2的薄膜，这时对于波长λ0来说，薄膜和基片组合的系统可以用折射率为Y=n22/ng的假想基片来等价。显然...